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  专利号:ZL201220161303.8
  型号:XTL-2K
  用途:1、LED外延片/芯片/PSS图形缺陷检测
           2、支持排线及电子印刷等图形缺陷检测
 
 
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  型号:XTL-5K
  用途:薄膜光伏面板、各类光学玻璃和镀膜版的缺陷扫描分析
 
 
 
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  专利号:ZL201220161303.8
  型号:XTL-3K
  用途:快速检测光滑表面微小缺陷及污迹;镀膜表面的缺膜等
 
 
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