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  专利号:ZL201120280620.7
  型号:WB-70RX
  用途:1.弧高测量 2.台阶测量 3.器件尺寸测量
 
 
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  专利号:ZL201120527630.6
  型号:WB-2K2
  用途:键合工艺分析 - 缺线、断线、弯线、交叉丝缺陷检测
 
 
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  专利号:ZL201220088148.1
  型号:TJC-750A
  用途:1. 微观尺寸、套刻分析  2. 点距测量  3. 缺陷标注
 

 

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  型号:TJC-750S
  用途:裸片、划片检查及标记
 
 
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