型号:TJC-850 用途:压电晶体表面经镀铝、光刻、腐蚀后的梳状电极尺寸检测 特点:自动聚焦系统,排除人为误差,专利声表描片软件系统,可描绘声表微观形态,数据可与MATLAB接口 查看详情>
型号:TJC-105L 应用:用于标尺的微观尺寸及点距测量 特点:1.可进行自动检测流程化测量 2.可增配激光反馈,提升测量精度 查看详情>
型号:TJC-950UV
用途:高精度微观尺寸检测,用于0.5微米以下尺寸计量
特点:紫外光源照射,波长更短,探测精度更高
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